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涂鍍層測厚儀和涂層測厚儀的特點比較
日期：2025-04-24 09:31
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摘要：
涂層測厚儀也稱為涂鍍層測厚儀
根據測量原理，涂鍍層測厚儀一般有以下五種類型：
1.磁性厚度測量方法：適用于測量導電材料上非磁性導電層的厚度。 導磁材料通常是：鋼，鐵，銀，鎳。
2.渦流厚度測量方法：適用于導電金屬上非導電層的厚度測量。 此方法比磁性厚度測量方法（NT230涂層測厚儀）更**。
3.超聲波測厚法：目前國內尚無這種測厚層厚度的方法。國外一些廠家也有這種儀器，適用于多層測厚層的厚度或厚度的測量。 無法測量以上兩種方法的場合。 但是它通常很昂貴并且測量精度不高。
4.電解厚度測量方法：該方法不同于上述三種方法。 這不是非破壞性測試，需要破壞涂層。 總體精度不高。 測量比其他類型更麻煩。
5.輻射厚度測量方法：這種儀器非常昂貴（通常在10萬元人民幣以上），適合某些特殊場合。
當前，*常用的方法是前兩種方法。
常規涂鍍層測厚儀的原理
在材料的表面保護和裝飾上形成的覆蓋層，例如涂層，鍍層，涂層，粘附層，化學生成的薄膜等，在相關的國家和國際標準中稱為涂層。
涂層厚度的測量已經成為加工行業和表面工程質量檢查的重要組成部分，并且是產品達到**質量標準的必不可少的手段。 為了使產品國際化，我國的出口商品和與國外有關的項目對涂層的厚度有明確的要求。
涂層厚度的主要測量方法是：楔形切割法，光學切割法，電解法，厚度差測量法，稱量法，X射線熒光法，β射線背散射法，電容法，磁法和渦流法 法律等。這些方法的前五種是破壞性測試。 測量方法麻煩且緩慢，并且*適合于抽樣檢查。
X射線和β射線方法是非接觸式和非破壞性的測量方法，但是該設備復雜且昂貴，并且測量范圍小。 由于存在放射源，用戶必須遵守輻射防護規定。 X射線法可以測量非常薄的涂層，雙層涂層，合金涂層。 β射線法適用于原子量大于3的涂層的測量。電容法僅在測量薄導體絕緣涂層的厚度時使用。
隨著技術的進步，特別是近年來引入微計算機技術之后，采用磁法和渦流法的測厚儀已朝著小型化，智能化，多功能化，高精度和實用性的方向邁出了一步。 測量的分辨率達到了0.1微米，精度可以達到1％，這已經大大提高了。 它具有廣泛的應用范圍，范圍廣，操作簡便，價格低廉。 它是工業和科學研究中使用*廣泛的厚度測量儀器。
無損檢測方法既不損傷涂層也不破壞基材，檢測速度快，可以使大量的檢測工作變得經濟。